XRF镀层分析仪

Thick 800AXRF镀层分析仪参数规格

1 分析元素范围：S-U
2 同时可分析多达5层以上镀层
3 分析厚度检出限高达0.005μm
4 多次测量重复性高可达0.01μm
5 定位精度：0.1mm
6 测量时间：30s-300s
7 计数率：1300-8000cps
8 Z轴升降范围：0-140mm
9 X/Y平台可移动行程：50mm(W)×50mm(D)

性能特点
1  XRF镀层分析仪满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；
2 φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求；
3 精细的移动平台可测试点，重复定位精度小于0.005mm；
4 天瑞仪器镀层测厚仪采用高度定位激光，可自动定位测试高度；
5  定位激光定位光斑，确保测试点与光斑对齐；
6  鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；
7  高分辨率探头使分析结果更加准确；
8  良好的射线屏蔽作用；
9  测试口高度敏感性传感器保护；